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IR52 장영실상 수상 | HITS 뉴스
반도체 패키지 2D/3D 검사기술 적용 고속 검사 시스템 개발로 HITS 에이치아이티에스가 IR52 장영실상을 수상한 소식입니다.
2014-10-27 반도체 패키지 2D/3D 검사기술 적용 고속 검사 시스템 개발로 장영실상을 수상 반도체 패키지 2D/3D 검사기술 적용 고속 검사 시스템 개발로 장영실상을 수상하였습니다.
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반도체 패키지 2D/3D 검사기술 적용 고속 검사 시스템 개발로 장영실상을 수상하였습니다.
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